晶振是眾多元器件中的一小部分,測量電子元器件的工作體現(xiàn)在數(shù)量大、速度快,在電子元件生產(chǎn)廠中，由于生產(chǎn)的元件數(shù)量很大，因此測量的工作量也很大。這就要求測量具有高速度。而電子元件測量是通過電磁波和電子的運(yùn)動來實(shí)現(xiàn)對元件進(jìn)行測量的，因而可以實(shí)現(xiàn)元件測量過程的高速度。

頻率范圍廣泛,電子元件測量的頻率范圍從零到幾十吉赫以上。晶振的頻率從KHZ到MHZ,在不同的頻率范圍內(nèi)，所采用的測量方
法和測量儀器不同。例如在不同頻率（如高頻、低頻、超低頻）下，對電容器的容量和介質(zhì)損耗角正切的測量，所采用的測量方法和測量儀器就有所不同。
量程范圍寬
電子元件測量儀表的量程范圍很寬。例如：一只歐姆表可以測量幾歐到幾兆歐的電阻值。
通常測量一些電子元器件會帶來一些誤差,而測量誤差產(chǎn)生的原因是各式各樣的，要完全掌握和消除所有的測量誤差也是不可能的。
研究誤差理論的目的，就是要根據(jù)誤差的規(guī)律，在一定的測量條件下盡力設(shè)法減小誤差，保證研究課題與產(chǎn)品的質(zhì)量，并根據(jù)誤差理論合理地設(shè)計(jì)和組織實(shí)驗(yàn)，正確地選用儀器、儀表和測量方法，正確地進(jìn)行測量
一、測量誤差的來源
裝置誤差
由測量儀器和設(shè)備所引入的誤差即為裝置誤差。例如電橋中的標(biāo)準(zhǔn)電阻，天平的砝碼，示波器的探極線等都含有誤差。儀器、儀表的零位偏移、刻度不準(zhǔn)確以及非線性等引起的誤差均屬此類。
環(huán)境誤差
環(huán)境誤差是指由環(huán)境條件與所要求的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)不一致等造成的誤差，主要是外界的溫度、濕度、氣壓、電磁場、輻射等影響所產(chǎn)生的誤差。例如，數(shù)字式電壓表的技術(shù)指標(biāo)中常常單獨(dú)給出的溫度影響誤差就屬于此類。
方法誤差
方法誤差是指測量時(shí)使用的方法不完善，或者依據(jù)的理論不嚴(yán)密，采用近似公式，對某些經(jīng)典測量方法作不適當(dāng)?shù)男薷牡人a(chǎn)生的誤差。
人身誤差
由于測量者的分辨能力、視覺疲勞、固有習(xí)慣或缺乏責(zé)任心等引起的誤差稱為人身誤差。例如讀錯(cuò)刻度，念錯(cuò)讀數(shù)，操作不當(dāng)?shù)取＿@種誤差往往因人而異。在測量工作中，對于誤差的來源必須認(rèn)真分析，采取相應(yīng)措施，以減小誤差對測量結(jié)果的影響。

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